О сертификации в России
Сертификация специалистов, продукции и услуг
Архив документов по сертификации и стандартизации
Реквизиты IEC 60749-19(2003)
Название (рус.):
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
<a href="http://ad.adriver.ru/cgi-bin/click.cgi?sid=42143&bt=1&pz=0&rnd=1478507166" target=_blank> <img src="http://ad.adriver.ru/cgi-bin/rle.cgi?sid=42143&bt=1&pz=0&rnd=1478507166" alt="-AdRiver-" border=0 width=468 height=60></a>
Хостинг от
uCoz