Реквизиты IEC 60749-4(2002)




Название (рус.):Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в установившемся режиме напряжения, вызванного влажным теплом (HAST)
Заменяет стандарты:IEC/PAS 62177(2000)
Дата введения:30.04.02



Хостинг от uCoz