Реквизиты IEC 60749-3(2002)




Название (рус.):Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
Заменяет стандарты:IEC/PAS 62163(2000)
Дата введения:30.04.02



Хостинг от uCoz