IEC 60749(1996)/Amd.1(2000)


(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)


Название (рус.):Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1
Дата введения:01.07.00

Текст IEC 60749(1996)/Amd.1(2000) лежит тут Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1 (600 Кб)


Хостинг от uCoz