О сертификации в России
Сертификация специалистов, продукции и услуг
Архив документов по сертификации и стандартизации
ISO 18114:2003
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
Название (англ.):
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Код ОКС(МКС):
71.040.40
Загрузить ISO 18114:2003 (652 Кб)
<a href="http://ad.adriver.ru/cgi-bin/click.cgi?sid=42143&bt=1&pz=0&rnd=1478507166" target=_blank> <img src="http://ad.adriver.ru/cgi-bin/rle.cgi?sid=42143&bt=1&pz=0&rnd=1478507166" alt="-AdRiver-" border=0 width=468 height=60></a>
Хостинг от
uCoz