|
ISO/TTA 4:2002
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Измерение удельной теплопроводности тонких пленок на кремниевых подложках | | Название (англ.): | Measurement of thermal conductivity of thin films on silicon substrates | | Дата регистрации: | 13.01.03 | | Дата введения: | 15.11.02 | | Код ОКС(МКС): | 19.100 | |
Загрузить ISO/TTA 4:2002 (858 Кб) Измерение удельной теплопроводности тонких пленок на кремниевых подложках
| |