|
ISO 15632:2002
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Микропучковый анализ. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами | | Название (англ.): | Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors | | Дата регистрации: | 15.01.03 | | Дата введения: | 01.12.02 | | Код ОКС(МКС): | 37.020, 71.040.99 | |
Download ISO 15632:2002 free rar,zip,doc Микропучковый анализ. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами
| |