|
ISO/TR 15969:2001
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Химический анализ поверхности. Глубокое профилирование. Измерение глубины напыления | | Название (англ.): | Surface chemical analysis. Depth profiling. Measurement of sputtered depth | | Дата регистрации: | 09.07.01 | | Дата введения: | 01.06.01 | | Код ОКС(МКС): | 71.040.40 | |
Загрузить ISO/TR 15969:2001 (253 Кб) Химический анализ поверхности. Глубокое профилирование. Измерение глубины напыления
| |