|
ISO 3497:2000
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы | | Название (англ.): | Metallic coatings. Measurement of coating thickness. X-ray spectrometric methods | | Заменяет стандарты: | ISO 3497:1990 | | Дата регистрации: | 02.02.01 | | Дата введения: | 15.12.00 | | Код ОКС(МКС): | 25.220.40 | |
В архиве лежит ISO 3497:2000 Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы (731 Кб)
| |