Приборы для измерения шероховатости поверхности профильным методом. Контактные (щуповые) приборы последовательного преобразования профиля. Контактные профилеметры системы М
Название (англ.):
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method; Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation; Contact profile meters, system M
Описание (англ.):
Defines the basic terms relating to system M profile meters, gives the basic parameters of these instruments and their numerical values and specifies their metrological characteristics.
Заменён стандартами:
ISO 3274:1996
Дата введения:
01.07.75
Дата отмены:
01.12.96
Код КГС:
П52
Код ОКСТУ:
3936
Код ОКС(МКС):
17.040.30
Код ОКП:
3936
Нормативные ссылки:
DIN 4768-1990, NEQ*DIN 4772-1979, NEQ*DS/ISO 3274-1981, EQV*NF E05-052-1986, EQV*OENORM M 1114-1982, NEQ*VSM 58101, NEQ*UNE 82-314-91(1991/AENOR), EQV