|
| Название (рус.): | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания |
| Название (англ.): | Micrographics; aperture cards; method of measuring thickness of buildup area |
| Описание (англ.): | The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer. |
| Заменён стандартами: | ISO 6342:2003 |
| Дата регистрации: | 01.10.93 |
| Дата введения: | 01.08.93 |
| Дата отмены: | 24.07.03 |
| Код КГС: | Э46 |
| Код ОКСТУ: | 4084 |
| Код ОКС(МКС): | 37.080 |
| Код ОКП: | 4084 |
| Нормативные ссылки: | BS ISO 6342(1994/BSI), EQV ISO 534-1988*ISO 6196-1-1980*ISO 6196-4-1987 |
| Ключевые слова: | APERTURE CARDS MICROFILM MICROGRAPHICS PUNCHED CARDS TESTING TESTS THICKNESS MEASUREMENT |
|