|
ГОСТ 26239.5-84
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей | | Название (англ.): | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination | | Дата введения: | 01.01.1986 | | Код КГС: | В59 | | Код ОКСТУ: | 1709 | | Код ОКС(МКС): | 29.045 | | Код ОКП: | 1709 | | Страна разработчик: | Российская Федерация | |
Загрузить ГОСТ 26239.5-84 (701 Кб) Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
| |