Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Название (англ.):
Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Methods for measuring critical change rate of dielectric voltage
Область применения:
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов (далее - приборы), и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора. Общие условия при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 24613.0-81