О сертификации в России
Сертификация специалистов, продукции и услуг
Архив документов по сертификации и стандартизации
IEC 60147-1J(1981)
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
Название (рус.):
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Девятое дополнение к публикации 147-1-72
Изменён стандартами:
IEC 60747-1(1983)*IEC 60747-2(1983)*IEC 60747-6(1983)
Дата введения:
01.01.81
Скачать IEC 60147-1J(1981) doc Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Девятое дополнение к публикации 147-1-72
<a href="http://ad.adriver.ru/cgi-bin/click.cgi?sid=42143&bt=1&pz=0&rnd=1478507166" target=_blank> <img src="http://ad.adriver.ru/cgi-bin/rle.cgi?sid=42143&bt=1&pz=0&rnd=1478507166" alt="-AdRiver-" border=0 width=468 height=60></a>