|
IEC 60749(1996)
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний | | Заменяет стандарты: | IEC 60749(1984)*IEC 60749 AMD 1(1991.11)*IEC 60749 AMD 2(1993.09)*IEC 47/1394/FDIS(1996.03) | | Дата введения: | 01.10.96 | |
В архиве лежит IEC 60749(1996) Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний (164 Кб)
| |