|
ISO 14606:2000
(в архиве можно скачать текст в форматах doc,rar,zip,html)
| | Название (рус.): | Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве эталонных материалов | | Название (англ.): | Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials | | Дата регистрации: | 01.11.00 | | Дата введения: | 01.10.00 | | Код ОКС(МКС): | 71.040.40 | |
Скачать ISO 14606:2000 doc Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве эталонных материалов
| |