|
| Название (рус.): | Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы |
| Название (англ.): | Metallic coatings; measurement of coating thickness; X-ray spectrometric methods |
| Описание (англ.): | Permits the simultaneous measurement of some 3-layer-systems. The methods determine the mass per unit area and the linear thickness of the coating, respectively. The measurement ranges of given coating materials are largely determined by the measurement uncertainty and may differ depending upon the instrument system and operating procedure used. A table of typical ranges for common materials is given in annex A. Does not cover the personnel protection against X-rays. |
| Заменён стандартами: | ISO 3497:2000 |
| Заменяет стандарты: | ISO 3497(1976.02) |
| Дата регистрации: | 15.12.90 |
| Дата введения: | 01.11.90 |
| Код КГС: | Т99 |
| Код ОКСТУ: | 0009 |
| Код ОКС(МКС): | 25.220.40 |
| Код ОКП: | 0009 |
| Нормативные ссылки: | DIN 50987-1987, NEQ*BS 5411 PART 8(1991/BSI), EQV |
| Ключевые слова: | COATING THICKNESS MEASUREMENT METAL COATINGS METAL FILMS TESTING TESTS THICKNESS MEASUREMENT X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY X-RAY FLUORESCENCE |
|