|
Название (рус.): | Микрографическая техника. Апертурные карты. Метод измерения толщины в зоне наслаивания |
Название (англ.): | Micrographics; aperture cards; method of measuring thickness of buildup area |
Описание (англ.): | The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer. |
Заменён стандартами: | ISO 6342:2003 |
Дата регистрации: | 01.10.93 |
Дата введения: | 01.08.93 |
Дата отмены: | 24.07.03 |
Код КГС: | Э46 |
Код ОКСТУ: | 4084 |
Код ОКС(МКС): | 37.080 |
Код ОКП: | 4084 |
Нормативные ссылки: | BS ISO 6342(1994/BSI), EQV ISO 534-1988*ISO 6196-1-1980*ISO 6196-4-1987 |
Ключевые слова: | APERTURE CARDS MICROFILM MICROGRAPHICS PUNCHED CARDS TESTING TESTS THICKNESS MEASUREMENT |
|