Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров
Название (англ.):
Ionizing-radiation semiconductor detectors. Methods of parameters measurement
Область применения:
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений и устанавливает методы измерения их электрических и радиометрических параметров: темнового тока; емкости (гармонический и зарядовый методы); энергетического разрешения; энергетического эквивалента шума (метод непосредственного измерения и спектрометрический метод); энергетического эквивалента толщины метрвого слоя; дискретной чувствительности регистрации; средней частоты следования фоновых импульсов; радиационной помехоустойчивости; аналоговой чувствительности регистарции (статический и импульсный методы); времени нарастания сигнала; длительсности фронта нарастания сигнала. Стандарт не распространяется на ППД